Produto

FABRICANTE DE PROFILER DE VIRO MULTIPO DE CHINA FSA500

Um analisador de medição para analisar e medir parâmetros ópticos de vigas e pontos focados. Consiste em uma unidade de apontamento óptico, uma unidade de atenuação óptica, uma unidade de tratamento térmico e uma unidade de imagem óptica. Também está equipado com recursos de análise de software e fornece relatórios de teste.


  • Modelo:FSA500
  • Comprimento de onda:300-1100nm
  • Poder:MAX 500W
  • Nome da marca:Carman Haas
  • Detalhes do produto

    Tags de produto

    Descrição do instrumento:

    Um analisador de medição para analisar e medir parâmetros ópticos de vigas e pontos focados. Consiste em uma unidade de apontamento óptico, uma unidade de atenuação óptica, uma unidade de tratamento térmico e uma unidade de imagem óptica. Também está equipado com recursos de análise de software e fornece relatórios de teste.

    Recursos de instrumento:

    (1) análise dinâmica de vários indicadores (distribuição de energia, potência de pico, elipticidade, m2, tamanho do ponto) dentro da profundidade do alcance do foco;

    (2) ampla faixa de resposta ao comprimento de onda de UV a IR (190NM-1550NM);

    (3) Multi-Spot, quantitativo, fácil de operar;

    (4) limiar de alto dano a potência média de 500W;

    (5) Ultra alta resolução até 2.2um.

    Aplicação do instrumento:

    Para uma medição de parâmetros de foco de feixe único ou com vários feixes e feixe.

    Especificação do instrumento:

    Modelo

    FSA500

    Comprimento de onda (nm)

    300-1100

    NA

    ≤0.13

    Diâmetro do ponto da posição da pupila de entrada (mm)

    ≤17

    Energia média(C)

    1-500

    Tamanho fotossensível (mm)

    5.7x4.3

    Diâmetro do ponto mensurável (mm)

    0,02-4.3

    Taxa de quadros (FPS)

    14

    Conector

    USB 3.0

    Aplicação do instrumento:

    A faixa de comprimento de onda do feixe testável é de 300-1100Nm, a faixa média de potência do feixe é de 1-500W e o diâmetro do ponto focado a ser medido varia de um mínimo de 20 μm a 4,3 mm.

    Durante o uso, o usuário move o módulo ou fonte de luz para encontrar a melhor posição de teste e, em seguida, usa o software interno do sistema para medição e análise de dados.O software pode exibir o diagrama de ajuste de distribuição de intensidade bidimensional ou tridimensional da seção transversal do ponto de luz e também pode exibir dados quantitativos como tamanho, elipticidade, posição relativa e intensidade do ponto de luz na direção bidimensional. Ao mesmo tempo, o feixe M2 pode ser medido manualmente.

    y

    Tamanho da estrutura

    j

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