Produto

Fabricante de perfilador de feixe multiponto na China FSA500

Um analisador de medição para analisar e medir parâmetros ópticos de feixes e pontos focados. Consiste em uma unidade apontadora óptica, uma unidade de atenuação óptica, uma unidade de tratamento térmico e uma unidade de imagem óptica. Também é equipado com recursos de análise de software e fornece relatórios de teste.


  • Modelo:FSA500
  • Comprimento de onda:300-1100 nm
  • Poder:Máx. 500 W
  • Marca:CARMAN HAAS
  • Detalhes do produto

    Etiquetas de produto

    Descrição do instrumento:

    Um analisador de medição para analisar e medir parâmetros ópticos de feixes e pontos focados. Consiste em uma unidade apontadora óptica, uma unidade de atenuação óptica, uma unidade de tratamento térmico e uma unidade de imagem óptica. Também é equipado com recursos de análise de software e fornece relatórios de teste.

    Recursos do instrumento:

    (1) Análise dinâmica de vários indicadores (distribuição de energia, potência de pico, elipticidade, M2, tamanho do ponto) dentro da faixa de profundidade de foco;

    (2) Ampla faixa de resposta de comprimento de onda de UV a IR (190nm-1550nm);

    (3) Multiponto, quantitativo, fácil de operar;

    (4) Alto limite de danos para potência média de 500W;

    (5) Resolução ultra-alta de até 2,2um.

    Aplicação do instrumento:

    Para medição de parâmetros de foco de feixe único ou multifeixe e feixe.

    Especificação do instrumento:

    Modelo

    FSA500

    Comprimento de onda (nm)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Diâmetro do ponto da posição da pupila de entrada (mm)

    ≤17

    Potência média(C)

    1-500

    Tamanho fotossensível (mm)

    5,7x4,3

    Diâmetro do ponto mensurável (mm)

    0,02-4,3

    Taxa de quadros (fps)

    14

    Conector

    USB 3.0

    Aplicação do instrumento:

    A faixa de comprimento de onda do feixe testável é de 300 a 1100 nm, a faixa de potência média do feixe é de 1 a 500 W e o diâmetro do ponto focado a ser medido varia de um mínimo de 20 μm a 4,3 mm.

    Durante o uso, o usuário move o módulo ou fonte de luz para encontrar a melhor posição de teste e, em seguida, usa o software integrado do sistema para medição e análise de dados.O software pode exibir o diagrama de ajuste de distribuição de intensidade bidimensional ou tridimensional da seção transversal do ponto de luz e também pode exibir dados quantitativos, como tamanho, elipticidade, posição relativa e intensidade do ponto de luz nos dois direção dimensional. Ao mesmo tempo, o feixe M2 pode ser medido manualmente.

    sim

    Tamanho da estrutura

    j

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